MEMS封装工艺流程可分为以下主要阶段,综合了多种技术手段以确保微机械结构的集成与性能优化:
一、封装前准备
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晶圆级封装设计
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确定封装结构(如倒装芯片、WLCSP等),设计外框参数(尺寸、层数等)。
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通过仿真软件优化封装方案,提升性能与降低成本。
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材料与基板处理
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选择高纯度硅片或玻璃基板,进行表面清洗和预处理(如氧化、烘干)。
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涂覆光刻胶并形成掩膜,通过光刻、刻蚀工艺定义传感器结构。
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二、核心封装工艺
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芯片安装与键合
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将MEMS芯片精确安装到基板上,采用倒装芯片技术可减少键合难度。
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通过硅-硅直接键合(高温熔融)、金属化(如铝电极)、溅射镀镍Polyimide保护层等技术实现芯片与基板的连接。
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封装结构形成
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刻蚀形成通孔或倒装锥形结构,将芯片封装在封闭空间内。
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使用环氧树脂等密封材料完成封装,确保气密性和机械强度。
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三、后处理与测试
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表面处理与保护
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对电极和封装界面进行镀镍、球形抛光等处理,提升导电性和抗划伤能力。
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添加抗反射层(如蓝宝石)或抗静电层,优化光学性能。
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性能验证
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进行电性能测试(如电阻、电容测量)、结构稳定性测试(如湿气、温度循环)。
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根据测试结果调整工艺参数,确保满足应用场景要求。
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四、成品封装与包装
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最终封装
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完成封装后进行后处理(如喷涂、固化),提升成品可靠性。
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将封装好的MEMS器件集成到PCB板或直接封装为独立模块。
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分切与成品化
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对晶圆级封装产品进行切割,分离成单个MEMS器件。
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包装成品,标注参数信息,准备量产。
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关键技术要点
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材料选择 :优先选用高透光性、低反射性、耐腐蚀性材料(如玻璃、陶瓷)。
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工艺优化 :通过仿真和迭代优化封装结构,降低生产成本。
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质量检测 :全流程严格检测,确保封装强度、电气性能和环境适应性。
以上流程需结合具体应用场景调整,例如WLCSP封装强调高精度键合技术,而倒装芯片封装则侧重减少热应力和提高集成度。