在半导体材料中，‌载流子类型（p型或n型）可通过霍尔效应测试、导电类型判别仪或热探针法快速判断‌，其中霍尔系数符号直接反映载流子极性，n型为负（电子主导），p型为正（空穴主导）。以下是具体判别方法：

1. ‌霍尔效应测试‌
   对材料施加垂直磁场和电流，测量横向电压（霍尔电压）。若霍尔系数为负值，表明主要载流子为电子（n型）；若为正值，则为空穴导电（p型）。此方法精度高，适用于实验室环境。

2. ‌导电类型判别仪‌
   通过探针接触材料表面，仪器自动检测载流子极性。n型材料显示电子导电特性，p型则显示空穴响应。该工具操作简便，常用于生产线快速分选。

3. ‌热探针法‌
   用加热探针接触材料，结合冷端形成温差电势。n型材料中热端电势为负，p型为正。此方法无需复杂设备，适合现场初步判断。

4. ‌掺杂元素分析‌
   p型半导体通常掺入硼、镓等三价元素，形成空穴；n型掺入磷、砷等五价元素，提供自由电子。通过成分检测可间接推断载流子类型。

实际应用中可结合多种方法交叉验证，‌优先选择霍尔效应测试确保准确性‌，而产线快速筛查可依赖导电类型判别仪。注意环境温度和杂质浓度可能影响测试结果。