‌良率和不良率是衡量生产质量的核心指标‌：‌良率=合格品数÷总产量×100%‌，反映有效产出比例；‌不良率=不良品数÷总产量×100%‌，直接体现缺陷比例。两者相加为100%，是生产优化的关键数据抓手。

分点解析计算公式

1. ‌良率计算逻辑‌
   公式分子为通过质检的合格品数量，分母为当期生产总量（含合格与不合格）。例如生产1000件产品中有950件合格，则良率为95%，常用于电子制造、医药等行业。

2. ‌不良率计算要点‌
   直接统计缺陷品数量与总产量的比值。同一案例中不良率为5%（50÷1000），需区分严重不良（致命缺陷）与轻微不良（外观瑕疵），后者可能不影响良率统计。

3. ‌互补关系与场景差异‌

   • 良率聚焦有效产出，适用于成本核算；不良率侧重问题定位，常用于工艺改进
   • 半导体行业更关注良率（如晶圆良率达99.9%），而汽车零部件则同时监控不良率分级（AQL标准）

应用提示

实际计算需明确定义"合格"标准（如国标/企标），批量生产建议按班次或批次分段统计。定期对比良率趋势可预警潜在风险，而深入分析不良率数据能精准定位产线瓶颈。