半导体晶圆上的 shot 是光刻过程中曝光的最小单位,通常由一个或多个芯片(Die)和外围测试电路组成,用于完成集成电路的制造。
以下是关于 shot 的关键特点:
定义与组成:
每个shot是光刻过程中光刻机一次曝光的区域,包含一个或多个Die以及外围的测试电路。这些shot被排列在晶圆表面,用于制造集成电路。曝光特性:
光刻机通过遮光罩(mask)将设计图案投射到晶圆上,每次曝光的区域即为一个shot。这些shot在晶圆表面重复排列,最终形成完整的电路图案。技术背景:
shot的大小与光刻机技术密切相关。例如,步进式光刻机的shot大小通常为22mm×22mm,而更先进的步进-扫描式光刻机可支持更大尺寸的曝光区域。作用与应用:
shot的设计不仅决定了芯片的布局,还影响着晶圆的利用率。例如,在晶圆边缘的不完整shot区域,可通过特殊设计(如mirror shot)优化封装定位,提高生产效率。对芯片制造的意义:
shot是晶圆制造的核心环节,直接影响芯片的良率和生产效率。合理设计shot的布局和大小,能够提升晶圆的整体利用率。
半导体晶圆上的 shot 是光刻过程中不可或缺的基本单元,其设计直接关系到芯片制造的质量和效率。通过优化shot的布局和曝光方式,可以提升晶圆的利用率和生产效率。