带隙半导体材料是决定电子器件性能的核心要素,其带隙宽度直接影响耐压、耐温及高频特性。窄带隙材料(如硅、锗)适用于低压逻辑电路,而宽带隙材料(如碳化硅、氮化镓)凭借高耐压、耐高温等优势,成为电动汽车、5G通信等前沿领域的关键。
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窄带隙半导体:带隙小于2.3eV,以硅(Si,1.1eV)和锗(Ge,0.66eV)为代表。硅因成本低、氧化层稳定,主导集成电路市场;锗因漏电流大逐渐被替代。这类材料适合制造低压、低频器件,如CPU和存储器芯片,但高温和高频性能受限。
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第二代半导体:以砷化镓(GaAs,1.42eV)和磷化铟(InP,1.34eV)为主,带隙适中且为直接带隙,电子迁移率高,适合高频、光电器件。例如GaAs用于手机功率放大器,InP用于光纤通信激光器,但成本高昂且难以替代硅的逻辑芯片地位。
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宽带隙半导体:带隙≥2.3eV,以碳化硅(SiC,3.26eV)和氮化镓(GaN,3.4eV)为核心。其击穿电场强度是硅的10倍,热导率高,适用于高温、高压场景。SiC用于电动汽车逆变器(如特斯拉Model 3),GaN用于5G基站和快充头(如OPPO 65W充电器),显著提升能效和功率密度。
未来趋势:氧化镓(Ga₂O₃)和金刚石等超宽禁带材料正在研发,有望突破更高耐压极限。半导体材料正从“通用性”向“专用性”演进,推动能源、通信等领域的革新。